Generatory EMC dla inzynierow - HIK-CONSULTING

Firma LANGER EMV-Technik dostarcza oprzyrządowanie do badań kompatybilności elektromagnetycznej dla inżynierów na etapach konstrukcji urządzeń elektronicznych. Produkowane są m.in.:

• Miniaturowe generatory zakłóceń elektromagnetycznych pola E i H
  

• Zestawy sond pola bliskiego E i H
  

• Zautomatyzowane skanery do płytek
  

Generatory EMC
P 11 Impulsy pola magnetycznego do 1mT
P 12 Impulsy pola magnetycznego (Clip-on probe) do 1mT
P 21 Impulsy pola elektrycznego do 100kV/m
P 23 Generator ESD 1.2kV - Broszura PDF

GENERATORY NARAZEN EMC - broszura

   

Informacje uzupełniające o inżynierskich narzędziach do badań EMC w dziale Zestawy Edukacyjne, EMC, Użyteczne informacje...

Link do: ZESTAWY EDUKACYJNE : EMC

Przykładowe funkcje zestawów edukacyjnych EMC

• Charakterystyki korekcyjne mikrosond (ICR HV/HH) pola bliskiego
  

• Charakterystyki korekcyjne sond pola magnetycznegoPomiary parametrów układów scalonych (IC) na płytkach drukowanych (PCB)
  

• EMC - mikroelektronika: pytania i odpowiedzi -
  

• Alternatywa dla pomiarów zgodnych z normą IEC 62 132-4 (metoda DPI - wytrzymałość układów VLSI)
  

• Odporność układów scalonych (IC) na szybkie stany przejściowe (EFT)
  

• EMC: układy scalone (IC) - metodologia pomirowa
  

• Nowe aspekty odporności na wyładowania elektrostatyczne (ESD): wysokie częstotliwości (EN 61000-4)
  

• Nowe aspekty odporności na wyładowania elektrostatyczne (ESD): wysokie częstotliwości -
  

• Odporność układów scalonych (IC) na zakłócenia impulsowe
  

• Wyznaczanie odporność układów scalonych (IC) na zakłócenia impulsowe
  

• Odporność układów scalonych (IC) na zakłócenia od szybkich stanów przejściowych (EFT)
  

• Odporność wzmacniaczy operacyjnych na zakłócenia RF
  

• Odporność układów scalonych (IC) na zakłócenia RF
  

• Mechanizmy emisji pola bliskiego od układów scaloncyh (IC) na płytkach drukowanych (PCB), część 1
  

• Mechanizmy emisji pola bliskiego od układów scaloncyh (IC) na płytkach drukowanych (PCB), część 2
  

• Pomiary emisji zakłóceń na stanowisku roboczym
  

• Poprawienie odporności modułów elektronicznych na zakłócenia impulsowe
  

• Precyzyjne pomiary charakterystyk EMC układów scalonych (IC): metodologia pomiarowa
  

• Skanowanie powierzchniowe układów scalonych (IC) w wysokiej rozdzielczości: cz. 1
  

• Skanowanie powierzchniowe układów scalonych (IC) w wysokiej rozdzielczości: cz. 2
  

• Sprzęganie sygnałów RF na pinach układów scalonych (IC): metoda DPI
  

• Układy scalone (IC) wzmacniaczy operacyjnych: pomiary odporności RF - KLIKNIJ
  

• Zautomatyzowane pomiary DPI układów scalonych (IC)