PLATFORMA Wielofunkcyjna - HIK-CONSULTING

Testery Platformowe (PLATFORM)

Rodzina testerów stosowanych do badania odporności na wyładowania SURGE do 8kV.
Wszystkie urządzenia są skonstruowane tak aby całkowicie wypełniać i przewyższać zakresy testów wymagane normami, dzięki czemu testery z tej rodziny są idealnymi przyrządami dla działów badawczo - rozwojowych, konstrukcyjnych.

Modułowa konstrukcja pozwala na tworzenie zestawów testowych dopasowanych do potrzeb konstruktorów.

Testery kompaktowe są zaprojektowane nie tylko do testowania wyładowań SURGE, ale również pozwalają na testowanie odporności na inne zjawiska EMC, takie jak: EFT, BURST, Zaniki / Zapady, dzieki czemu idealnie nadają się dla potrzeb badań i certyfikacji na znak CE.

W skład rodziny testerów HAEFELY PLATFROM wchodzą następujące przyrządy:

Testowanie systemów zasilania, przebiegi zanikające i kombinowane
PIM 100, PIM 110 ; PCD 100 lub PCD 130
IEC 61000-4-5 Ed. 1 & 2, ANSI C62.41/45, IEC 61000-4-12, ITU K 20, ITU K 45 i EN 300 386-2

Oscylacje 100kHz i 1MHz
PIM 150
IEC 60255-22-1, IEC 60255-3, IEC 61000-4-12 (częściowo; pełny zakres z dodatkowym PIM110)
IEEE C37.90.1-2002 (cześciowo, pełny zakres z dodatkowym PEFT4010)

Systemy telekomunikacyjne
PIM 120, PCD 120
ITU K 17, 20, 21 & 45, EN 300 386-2, IEC 60950 (częściowo), UL 1950 (częściowo),
IEC 61000-4-5 Ed. 1 & 2 (częściowo; pełny zakres z dodatkowym PIM100)

PIM 130, PCD K22
IEC 60950-1, UL 1950 (częściowo,  pełny zakres z dodatkowymi PIM120, PCD120) i ITU K22

Przykłady zestawów PLATFORM