Skanery EMC - Specjalistyczne Testery, Przyrządy i Systemy Pomiarowe, Zasilacze AC i DC

Szukaj
Testery: HIPOT, HYAMP
Przejdź do treści

Menu główne:

Skanery EMC


Systemy pozycjonowania i sondy bliskiego pola o rozdzielczości do 60 μm


Skanery
Skanery z różnymi systemami pozycjonowania do zautomatyzowanego skanowania PCB i IC za pomocą systemów pomiarowych o wysokiej rozdzielczości.
Mikrosondy pola bliskiego
Mikrosondy bliskiego pola są przeznaczone do pomiarów pola elektrycznego i pola H w zakresie częstotliwości od 0,5 MHz do 6 GHz przy rozdzielczości od 60 μm do 300 μm.


Sondy do skanerów zbliżeniowych
Pasywne sondy bliskiego pola przeznaczone do użycia w skanerze do pomiaru pola E i pola magnetycznego podczas rozwoju.
 
Copyright © HIK-CONSULTING      Chabrowa 16, 01-934 Warszawa,    Tel: 603 639 355,  Tel: +48 22 864-99-08, Godziny pracy: 8:00-16:00, Pon. - Pt.
KONTAKT
Polityka Prywatności
Copyright 2015. All rights reserved.
Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego