Komory badawcze Open-TEM - pomiary kompatybilnościowe EMC - Testery, Zasilacze, Przyrządy pomiarowe, Zestawy edukacyjne

HIK-CONSULTING logo
TECHNIKA POMIAROWA SYSTEMY EMC SYMULATORY
TECHNIKA POMIAROWA SYSTEMY SYMULATORY
Przejdź do treści

Komory badawcze Open-TEM - pomiary kompatybilnościowe EMC

Komory pomiarowe O-TEM   (Open TEM)                komory GTEM, TEM, O-TEM


Komora TEM składa się z tzw. linii długiej skonstruowanej w taki sposób aby uzyskać stałą impedancję falową od gniazda wejściowego poprzez specjalnie rozszerzony obszar badawczy, aż do obciążenia szerokopasmowgo o dopasowanej impedancji.


Linia paskowa TEM
Komory TEM dostępne są w dwóch wykonaniach: otwarte (nieekranowane) i ekranowane. Komory TEM przeznaczone są do badania odporności układów i urządzeń elektronicznych na opromieniowanie silnym polem elektromagnetycznym. Ze względu na uproszczoną konstrukcję - w stosunku do komór GTEM - komory TEM są ekonomicznym rozwiązaniem testowym dla potrzeb testów w zakresie częstotliwosci do 3000MHz.  Komory TEM znajduja szerokie zastosowanie przy badaniu podzespołów dla przemysłu motoryzacyjnego zgodnie z normami np.   SAE J1752-3,    IEC 61000-4-3.

Wszystkie komory O-TEM mogą być wyposażone opcjonalnie w: filtry sygnałowe i zasilania, sztuczne obciązenie

DANE TECHNICZNE
O-TEM 200
O-TEM 500
O-TEM 1000
O-TEM 3000
Zakres częstotliwości
DC - 200MHzDC - 500MhzDC - 1000MHJz DC - 3000MHz
Wysokość p[omiędzy płytami
32.7cm14.7cm7.3cm2.5cm
Wymiary (D x Sz x W)
247 x 114 x 70cm107 x 51 x 33.5cm54 x 45 x 16.8cm44 x 18 8cm
Maksymalna moc Wejściowa
1500W ciągła1000W ciągła750W ciągła400W ciągła
Natężenie pola ze wzmacniaczem 25W
105V/m215V/m480V/m1400V/m
Impedancja falowa
377OHm
377OHm
377OHm
377OHm
WFS
<1.1<1.2<1.2<1.9
Jednorodność pola
+/-5%
+/-5%
+/-5%
+/-5%
Masa
55kg
12kg
3.5kg
3kg
Komora open-TEM 500
Wróć do spisu treści