Komory badawcze Open-TEM - pomiary kompatybilnościowe EMC
Komory pomiarowe O-TEM (Open TEM) 
Komora TEM składa się z tzw. linii długiej skonstruowanej w taki sposób aby uzyskać stałą impedancję falową od gniazda wejściowego poprzez specjalnie rozszerzony obszar badawczy, aż do obciążenia szerokopasmowgo o dopasowanej impedancji.
Komory TEM dostępne są w dwóch wykonaniach: otwarte (nieekranowane) i ekranowane. Komory TEM przeznaczone są do badania odporności układów i urządzeń elektronicznych na opromieniowanie silnym polem elektromagnetycznym. Ze względu na uproszczoną konstrukcję - w stosunku do komór GTEM - komory TEM są ekonomicznym rozwiązaniem testowym dla potrzeb testów w zakresie częstotliwosci do 3000MHz. Komory TEM znajduja szerokie zastosowanie przy badaniu podzespołów dla przemysłu motoryzacyjnego zgodnie z normami np. SAE J1752-3, IEC 61000-4-3.
Wszystkie komory O-TEM mogą być wyposażone opcjonalnie w: filtry sygnałowe i zasilania, sztuczne obciązenie
DANE TECHNICZNE | O-TEM 200 | O-TEM 500 | O-TEM 1000 | O-TEM 3000 |
Zakres częstotliwości | DC - 200MHz | DC - 500Mhz | DC - 1000MHJz | DC - 3000MHz |
Wysokość p[omiędzy płytami | 32.7cm | 14.7cm | 7.3cm | 2.5cm |
Wymiary (D x Sz x W) | 247 x 114 x 70cm | 107 x 51 x 33.5cm | 54 x 45 x 16.8cm | 44 x 18 8cm |
Maksymalna moc Wejściowa | 1500W ciągła | 1000W ciągła | 750W ciągła | 400W ciągła |
Natężenie pola ze wzmacniaczem 25W | 105V/m | 215V/m | 480V/m | 1400V/m |
Impedancja falowa | 377OHm | 377OHm | 377OHm | 377OHm |
WFS | <1.1 | <1.2 | <1.2 | <1.9 |
Jednorodność pola | +/-5% | +/-5% | +/-5% | +/-5% |
Masa | 55kg | 12kg | 3.5kg | 3kg |
Komora open-TEM 500