System EMI, IEC62493 - Testery, Zasilacze, Przyrządy pomiarowe, Zestawy edukacyjne

HIK-CONSULTING logo
Zasoby WWW:
Przejdź do treści

System EMI, IEC62493

System testowy AFJ VDH 30 Badanie ekspozycji człowieka  na pola elektromagnetyczne wytwarzane przez sprzęt oświetleniowy.

Głowica testowa, Zakres częstotliwości 20kHz - 10MHz. Pomiary zgodnie z normami: IEC 62493 Ed. 2.0: 2015-03.


Przebywanie w pobliżu źródeł światła jest związane z narażeniem na promieniowanie ektromagnetyczne wytwarzane przez źródła światła. Ze względu na czasami stosunkowo duże rozmiary źródeł światła badany musi być wpływ zakłóceń przenoszących się na organizm człowieka poprzez sprzężenia pojemnościowe pomiędzy źródłem i ciałem człowieka. Niezbędne testy zostały ujęte przez normę IEC 62493. Norma ta opisuje pomiary w paśmie 20kHz do 10MHz, z zastosowaniem specjalnej głowicy odbiorczej w postaci kuli przewodzącej o średnicy 21cm (Głowica Van Der Hoofden). Zestawy VDH 30 (AFJ) współpracują ze wszystkimi odbiornikami EMC firmy AFJ.

Zestaw pomiarowy AFJ:
VDH 30 zawiera głowicę pomiarową i akcesoria, poniżej zostały przedstawione podstawowe parametry techniczne.

BROSZURA TECHNICZNA AFJ VDH30 - KLIKNIJ




Stanowisko pomiarowe VDH 30 z głowicą

Van Der Hoofden


Wróć do spisu treści