Generatory szybkich impulsów zakłócających - pole bliskie, kontakt - Testery, Zasilacze, Przyrządy pomiarowe, Zestawy edukacyjne

HIK-CONSULTING logo
TECHNIKA POMIAROWA SYSTEMY EMC SYMULATORY
TECHNIKA POMIAROWA SYSTEMY SYMULATORY
Przejdź do treści

Generatory szybkich impulsów zakłócających - pole bliskie, kontakt


Generatory pola E i H - badanie odporności na zakłócecnia EMC


Małe i poręczne generatory impulsów używane do wykrywania słabych punktów w testowanym urządzeniu
Zastosowanie generatorów impulsów zakłócajacych LANGER do praktycznego znajdowania najbardziej wrażliwych na zakłócenia obszarów na płytce PCB: materiał wideo przygotowany przez firmę LANGER  

P1:  DANE TECHNICZNE      /          P23:  DANE TECHNICZNE (Instrukcja Obsługi P23 Mini Burst)

     


   

E1 SET: Immunity Development System


Firma LANGER EMV przygotowała specjalne zestawy przyrządów i akcesoriów do badania odporności na zakłócenia. Zestawy są przeznaczone dla inżynierów opracowujących nowe konsrukcje elektroniczne. Zestaw E1 umożliwia szybkie zbadanie płytek PCB pod względem odporności na pola E (Elektryczne) i H (magnetyczne). Konstrukcja i dobór elementów zestawu pozwalają na badanie płytek, obszarów, ścieżek, lub samych układów scalonych.

DANE TECHNICZNE Zestawu E1 SET - Zestaw do badania odporności na zakłócenia EMC


Wróć do spisu treści