Seria XF - Specjalistyczne Testery, Przyrządy i Systemy Pomiarowe, Zasilacze AC i DC

Szukaj
Testery: HIPOT, HYAMP
Przejdź do treści

Menu główne:

Seria XF

XF, pasywny, 30 MHz - 6 GHz
Rodzina XF składa się z czterech sond pola magnetycznego i trzech sond pola elektrycznego
Dostępny jest zestaw XF1 (cztery sondy pola magnetycznego i jedna sonda pola E) oraz zestawy niestandardowe

Zestaw XF1
Near-Field Sondy 30 MHz do 6 GHz

Zestaw XF1 składa się z czterech sond pola magnetycznego i jednej sondy pola E do pomiaru pól E i pól magnetycznych od 30 MHz do 6 GHz na zespołach elektronicznych podczas fazy rozwoju. Ze względu na zintegrowane dopasowanie impedancji sondy są mniej czułe w zakresie niższych częstotliwości niż sondy typu RF. Głowice sondy zestawu XF1 pozwalają na stopniowe lokalizowanie źródeł zakłóceń pola magnetycznego na zespołach. Najpierw sonda XF-R 400-1 służy do wykrywania zakłóceń elektromagnetycznych z większych odległości. Następnie sondy wyższej rozdzielczości mogą być użyte do dokładniejszego wykrywania źródeł zakłóceń. Sonda pola elektrycznego służy do wykrywania elektrycznych pól interferencyjnych w pobliżu zespołów. Dzięki wyszkolonemu użyciu sond bliskiego pola można wykryć orientację pola i rozkład pola. Sondy bliskiego pola są małe i poręczne. Mają one bieżącą osłonę tłumiącą i dlatego są ekranowane elektrycznie. Można je podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Mają wewnętrzny opór zakańczający.

Zestaw zawiera:
1x XF-B 3-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-E 10, E-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-R 3-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-R 400-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-U 2.5-1, sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
1x SMA-SMA 1 m, przewód pomiarowy SMA-SMA
1x obudowa 5



Parametry techniczne:
Zakres częstotliwości 30 MHz ... 6 GHz
Rezystancja wyjściowa 50 Ω
Waga 400 g



Sondy w zestawie:

XF-B 3-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Cewka pomiarowa sondy XF-B 3-1 H-field jest ustawiona pod kątem 90 ° względem wału sondy. Po ustawieniu głowicy sondy pionowo, cewka pomiarowa bezpośrednio dotyka powierzchni płytki drukowanej. Pozwala to na stosowanie w miejscach na powierzchni obwodów drukowanych, które są ty ...


XF-E 10 - Sonda E-Field 30 MHz do 6 GHz
Elektroda w głowicy sondy XF-E 10 ma szerokość ok. 0,2 mm. Dzięki sondom można znaleźć nawet najmniejsze źródła pola E, np. prowadzenie ścieżek o szerokości 0,1 mm lub pojedynczych kołków w wielopinowych układach scalonych. Aby zmierzyć, sonda pola E jest umieszczona na obiekcie.


XF-R 3-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Sonda bliskiego pola XF-R 3-1 jest przeznaczona do bezpośrednich pomiarów wysokiej rozdzielczości pól magnetycznych RF w zespole, np. wokół pinów i obudów IC, ścieżek przewodzących, kondensatora odsprzęgającego i komponentów EMC.



XF-R 400-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Ze względu na dużą średnicę (25 mm) i wysoką rozdzielczość, sonda XF-R 400-1 jest odpowiednia do pomiarów w odległości do 10 cm wokół zespołów i urządzeń.



XF-U 2.5-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Sonda zbliżeniowa XF-U 2.5-2 przeznaczona jest do selektywnych pomiarów prądów RF w ścieżkach przewodzących, złączach komponentów, komponentach SMD i kołkach IC. Głowica sondy ma magnetycznie aktywną szczelinę z ok. szerokość 0,5 mm.
 
Copyright © HIK-CONSULTING      Chabrowa 16, 01-934 Warszawa,    Tel: 603 639 355,  Tel: +48 22 864-99-08, Godziny pracy: 8:00-16:00, Pon. - Pt.
KONTAKT
Polityka Prywatności
Copyright 2015. All rights reserved.
Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego